一、概述

       SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。

■ 光斑大小可进行定制，最小可达到10um；

■ 非接触、非破坏测量；

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；

■ 配置灵活、支持定制化

二、产品特点

■ 采用高强度卤素光源，光源稳定性好；

■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；

■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；

三、产品应用

        显微膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。

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