FluoTime 200模块式荧光寿命光谱仪
TRPL Mapping是一款高性能的荧光寿命光谱分析系统，模块化设计，应用灵活，包括完整的光电器件，通过时间相关单光子计数TCSPC来记录荧光衰减。相对于普通的荧光光谱仪，FluoTime200可以获得荧光寿命、荧光光谱强度随波长变化的3D图。该系统可以配合飞秒或皮秒激光器系统使用，譬如PicoQuant公司的LDH系列的半导体皮秒激光器。利用FluoTime200，荧光寿命曲线分辨率可以低至几个皮秒。系统zui高支持100MHz的激光重复频率，并且计数率可以达到几百万次/秒。
产品特点：模块化的灵活设计皮秒级时间分辨率，基于TCSPC和MCS低时域散射单色仪高质量偏振器高级数据分析软件
产品应用：时间分辨荧光/磷光寿命光谱单线态氧荧光各向异性测试光化学研究
TRPL Mapping参数：
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光学结构 |
L型，X型和T型可选 |
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工作模式 |
TCSPC和MCS |
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荧光寿命范围 |
<10ps-几百ms,取决于探测器和光源 |
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激发光源 |
亚纳秒LED(250-600nm)；皮秒激光器（266-1990nm），亚微秒氙灯，钛宝石激光器 |
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单色仪 |
Czerny-Turner结构，焦长100nm，1200g/mm光栅，手调狭缝 |
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探测器 |
制冷或非制冷探测器 PMT: 185nm-920nm，<180ps分辨率；包含多种探测器型号 MCP-PMT：185-910nm，10ps分辨率 NIR-PMT：900-1700nm，200ps分辨率 Hybrid-PMT：300-750nm，50ps/120ps分辨率，包含多个型号 |
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软件 |
极其易用软件，支持客户定制性测量，仪器任何模块可独立控制 荧光寿命光谱分析基于数值重卷积处理，高至四阶指数的衰减函数，含杂san光校正，寿命分布曲线，各向异性测试，全局分析，严密错误分析等功能 |
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